Использование вероятностных нечетких моделей при прогнозировании функциональных отказов СВЧ БИС при воздействии радиации

Представлены результаты анализа радиационного поведения СВЧ БИС на функционально-логическом уровне описания. Показано, что в ряде случаев характерны детерменированные и не детерменированные отказы. Каждый порог срабатывания логических элементов при воздействии ИИ обладает зоной неопределенности и количественно может быть выражен нечетким числом. В первом случае поведения сложных устройств определяется конкретным соотношением радиационно-чувствительных параметров элементов, во втором — статистическим разбросом пороговых уровней отказа для однотипных образцов.

Читать полную версию статьи